www.przemysl-polska.com

CEM instaluje Mitutoyo LEGEX TAKUMI do metrologii nanometrowej

Hiszpański Narodowy Instytut Metrologii rozszerza możliwości śledzonych pomiarów współrzędnościowych dla kalibracji w przemyśle lotniczym, motoryzacyjnym i medycznym.

  www.mitutoyo.eu

CEM instaluje Mitutoyo LEGEX TAKUMI do metrologii nanometrowej
Maszyna Mitutoyo Legex 574 zainstalowana w marcu 2025.

Hiszpańskie Centro Español de Metrología (CEM) zainstalowało współrzędnościową maszynę pomiarową Mitutoyo LEGEX TAKUMI (CMM), stając się pierwszym europejskim odbiorcą systemu LEGEX. Urządzenie ma wzmocnić wysokoprecyzyjną metrologię współrzędnościową na potrzeby krajowych pomiarów odniesienia oraz wymagań kalibracyjnych przemysłu, szczególnie w sektorach lotniczym, automotive i ochrony zdrowia.

CEM działa jako niezależna instytucja podlegająca hiszpańskiemu Ministerstwu Przemysłu i Turystyki, odpowiadając za utrzymanie krajowych wzorców jednostek miar. Wspiera również sieć laboratoriów wzorcujących w całym kraju. W tej roli CEM wykonuje rocznie tysiące kalibracji, zapewniając spójność metrologiczną (traceability) dla przemysłu hiszpańskiego; tekst wiąże to z konkurencyjnością branż w ponad 54 krajach.

Pomiary współrzędnościowe o niskim błędzie bezwzględnym
Instalacja LEGEX 574 TAKUMI jest przedstawiana jako krok w kierunku kalibracji o niższej niepewności w metrologii współrzędnościowej. Specyfikacja maszyny wynosi MPE E0 = (0,23 + 0,7L/1000) µm. Zakup urządzenia rozszerza również zakres pomiarów, które CEM może realizować w ramach infrastruktury metrologii długości.

Jako narodowy instytut metrologii, CEM uczestniczy w porównaniach międzynarodowych w ramach CIPM Mutual Recognition Arrangement (CIPM-MRA). Ma to istotne znaczenie, ponieważ parametry CMM — dokładność, powtarzalność i stabilność — bezpośrednio wpływają na możliwość realizacji wymagających pomiarów porównawczych z zachowaniem śledzonej niepewności.

Zakup skoncentrowany na zarządzaniu niepewnością i automatyzacji
CEM opisuje proces zakupowy jako silnie ukierunkowany technicznie, z doborem opartym o obiektywne kryteria. W komunikacie instytut podkreśla konieczność kontroli wszystkich istotnych zmiennych wpływających na pomiar oraz minimalizacji ich wpływu, aby uzyskać możliwie najniższą niepewność kalibracji przy zapewnieniu długiego okresu eksploatacji urządzenia. Za kluczowe czynniki jakościowe uznano także możliwości programowania i automatyzacji, a także zarządzanie danymi metrologicznymi, poziom wsparcia technicznego i warunki gwarancyjne producenta.

W tym kontekście MITUTOYO LEGEX 574 TAKUMI wybrano ze względu na parametry techniczne, możliwości automatyzacji i obsługę danych, ze szczególnym uwzględnieniem specjalistycznego wsparcia technicznego.

Długoletnia eksploatacja wcześniejszych systemów Mitutoyo
Instytut przywołuje również wcześniejsze urządzenia Mitutoyo wykorzystywane do wysokoprecyzyjnych kalibracji w długotrwałej eksploatacji. Przykładem jest Mitutoyo Ultra Quick Vision 350 Pro (2005) o deklarowanej niepewności poniżej 0,5 µm, które nadal pracuje i jest używane do kalibracji wzorców wysokiej dokładności. Kolejnym przykładem jest Mitutoyo Roundtest RA-5100 CNC (2008) o deklarowanej rozdzielczości 1 nm, wykorzystywane do oceny kulistości kul wzorcowych z deklarowaną niepewnością poniżej 10 nm. Przykłady te służą jako uzasadnienie wymagań w zakresie niezawodności i stabilności urządzeń w laboratoriach metrologii państwowej.


CEM instaluje Mitutoyo LEGEX TAKUMI do metrologii nanometrowej
Maszyna Mitutoyo Ultra Quick Vision 350 Pro o niepewności pomiarowej poniżej 0,5 μm, zainstalowana w CEM w 2005 r.

Instalacja oparta na kontroli środowiska i walidacji
Wdrożenie pierwszej jednostki LEGEX u europejskiego odbiorcy wymagało koordynacji pomiędzy zespołami technicznymi Mitutoyo, hiszpańskim dystrybutorem Sariki oraz personelem CEM. Opisywany proces obejmował przygotowanie środowiska pomiarowego w celu zapewnienia stabilności temperatury, pozycjonowanie i poziomowanie z dokładnością mikrometrową, a następnie wstępną kalibrację, szkolenia oraz weryfikację działania.

Po uruchomieniu CEM wskazuje, że urządzenie spełniło wymagania dotyczące dokładności, powtarzalności i stabilności — parametrów decydujących o możliwości stosowania systemu do krajowych kalibracji odniesienia, a nie jedynie do rutynowych pomiarów kontrolnych.

Pomiary bezobsługowe ograniczają zmienność i skracają przestoje
Automatyzacja została przedstawiona jako czynnik strategiczny dla laboratorium wykonującego setki kalibracji rocznie, ponieważ ogranicza wpływ operatora na wynik i skraca czas potrzebny do wykonania pomiaru. Tekst wiąże to bezpośrednio z efektem usługowym: krótszym czasem, w którym urządzenie klienta pozostaje wyłączone z użytkowania.

W tym kontekście LEGEX TAKUMI opisano jako system umożliwiający pomiary bezobsługowe dzięki zaawansowanemu programowaniu, którego celem jest ograniczenie źródeł błędu, zwiększenie przepustowości bez utraty dokładności, zapewnienie pełnej śledzalności danych oraz optymalizacja wykorzystania zasobów laboratorium. Podkreślono znaczenie tych możliwości dla klientów CEM, wśród których znajdują się laboratoria akredytowane, ośrodki badawcze i przedsiębiorstwa przemysłowe.


CEM instaluje Mitutoyo LEGEX TAKUMI do metrologii nanometrowej
Urządzenie Mitutoyo Roundtest RA-5100 CNC umożliwiające pomiar okrągłości kul wzorcowych z niepewnością poniżej 10 nm. Zainstalowane w 2008 r.

Metrologia nanometrowa zależy od całego łańcucha pomiarowego
W komunikacie podkreślono, że nanometrowe pomiary współrzędnościowe w trybie bezwzględnym nie wynikają wyłącznie z konstrukcji maszyny i niskiego błędu maksymalnego. Wymagają one także kontrolowanego środowiska laboratoryjnego ograniczającego zakłócenia zewnętrzne oraz automatyzacji zmniejszającej zmienność wprowadzoną przez operatora. W ujęciu metrologicznym jest to łańcuch systemowy: specyfikacja CMM, kontrola środowiska i dyscyplina procesu determinują poziom niepewności, który można wiarygodnie zagwarantować.

Wzmocnienie pozycji Hiszpanii w porównaniach europejskich
Wdrożenie LEGEX TAKUMI ma przygotować CEM do bardziej wymagających porównań w ramach CIPM-MRA oraz do zadań pomiarowych wymagających niższej niepewności. W łańcuchach kalibracyjnych przemysłu poprawa na poziomie wzorca państwowego zwykle przenosi się na laboratoria akredytowane, a następnie na użytkowników końcowych, zwiększając śledzalność pomiarów wymiarowych w branżach, w których tolerancje wytwarzania stają się coraz bardziej restrykcyjne.
 

  Zapytaj o więcej informacji…

LinkedIn
Pinterest

Dołącz do ponad 155 000 obserwujących IMP